Update: Sicherer ICs testen, ein Hochsicherheits-Netzteil

Netzteil zum Testen von ICs Je länger desto mehr werden an technischen Hochschulen und in Elektronikfirmen integrierte CMOS-Schaltungen entwickelt. Man nennt diese „Disziplin“ IC-Design. Die Arbeit erfolgt mit komplizierter Software an Computern. Die ultimativen Daten sendet man einer Halbleiterherstellerfirma via Internet. Diese Firma stellt eine Nullserie der intergrierten Schaltung her, die dem Entwickler per Paketpost – das Beamen ist noch nicht erfunden! 😉 – zum Testen zurückgesendet wird. Es naht die Stunde der Wahrheit. Die Nerven werden strapaziert. Und dann, welch ein wohltuendes Aufatmen, wenn festgestellt wird, dass alle Parameter stimmen. Die Korkenzapfen fliegen!

Bevor es aber soweit ist, sollten Maßnahmen getroffen werden, dass beim Testen nicht unabsichtlich ein zu testendes IC zerstört wird. Da gilt es dafür zu sorgen, dass keine statischen Entladungen auftreten können. Oft ist es so, dass selbsthergestellte CMOS-ICs nicht die hohen Ein- und Ausgangssicherheiten aufweisen, wie z.B. die 74HC(T)xxxx-, CD4xxx und MC14xxx-CMOS-Familien. Ein grosses Problem ist das Risiko des Latchup-Effekts. Um dieses zerstörerische Risiko so gering wie möglich zu halten, lohnt es sich ein dafür spezielles Netzteil zu realisieren! Dies ist das Thema dieses Elektronik-Minikurses.

Da dieser Elektronik-Minikurs leicht überarbeitet wurde und heute brandaktueller ist als vor vier Jahren, als ich ihn geschrieben habe, wird im ELKO-Newsletter erneut darauf aufmerksam gemacht.

Elektronik-Inhalte: Spannungsregelschaltung mit Opamp und Transistor. Das Dual-Tracking-Prinzip bei symmtrischer Spannungsregelung. Strombegrenzung mit Transistor. Überstromabschaltung mit Verzögerungsschaltung (Trägheit), RS-Flipflop, Transistor und Relais. Überspannungsbegrenzung die sich der Einstellung der Ausgangsspannung automatisch anpasst. Gleichbleibend helle Spannungsanzeige mit LEDs bis zu einer niedrigen Betriebsspannung von 0.7 VDC.